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SFCM 12/13 6: SE VEN LOS ÁTOMOS SE ENTIENDEN LOS MATERIALES
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Lunes 12 de Noviembre de 2012,
SE VEN LOS ÁTOMOS
SE ENTIENDEN LOS MATERIALES
JOSÉ M. GONZÁLEZ CALBET
Departamento de Química Inorgánica - Centro Nacional de Microscopia, UCM, España
La caracterización microestructural de materiales mediante microscopia electrónica es una herramienta única para detectar fenómenos de orden local que pueden estar relacionados con sus propiedades físico-químicas.
Hoy en día, la incorporación de correctores de aberración a microscopios electrónicos de última generación permite obtener esta información a nivel atómico tanto estructural como composicional. Esto posibilita un conocimiento de la relación composición-estructura-propiedades con un nivel de precisión sin precedentes que facilitará el desarrollo de materiales avanzados en los que pequeñas variaciones de composición pueden originar cambios en sus propiedades. Materiales avanzados tan diferentes como las cerámicas, el grafeno o los semiconductores magnéticos diluidos son objeto estudio de estos equipos.
Recientemente, un nuevo microscopio electrónico de resolución sub-Angstrom, dotado de corrector de aberración en la lente condensadora y técnicas espectroscópicas (EELS, EDS), ha sido instalado en la ICTS Centro de Microscopia Electrónica del Campus de Excelencia Moncloa. En esta presentación se mostrarán algunas de sus aplicaciones.
Los Seminarios Internacionales de Fronteras de la Ciencia de Materiales son organizados por el Departamento de Ciencia de Materiales de la Universidad Politécnica de Madrid, y tienen periodicidad semanal. Su objetivo es servir de punto de encuentro, interacción y difusión de problemáticas actuales y destacadas dentro del área de la Ciencia e Ingeniería de Materiales; con una visión amplia que va desde los materiales biológicos a los materiales funcionales, pasando por aplicaciones puramente tecnológicas. En ellos se cuenta con la participación desinteresada de relevantes investigadores y tecnólogos de Universidades, Empresas y Centros de Investigación del ámbito nacional e internacional.
SE VEN LOS ÁTOMOS
SE ENTIENDEN LOS MATERIALES
JOSÉ M. GONZÁLEZ CALBET
Departamento de Química Inorgánica - Centro Nacional de Microscopia, UCM, España
La caracterización microestructural de materiales mediante microscopia electrónica es una herramienta única para detectar fenómenos de orden local que pueden estar relacionados con sus propiedades físico-químicas.
Hoy en día, la incorporación de correctores de aberración a microscopios electrónicos de última generación permite obtener esta información a nivel atómico tanto estructural como composicional. Esto posibilita un conocimiento de la relación composición-estructura-propiedades con un nivel de precisión sin precedentes que facilitará el desarrollo de materiales avanzados en los que pequeñas variaciones de composición pueden originar cambios en sus propiedades. Materiales avanzados tan diferentes como las cerámicas, el grafeno o los semiconductores magnéticos diluidos son objeto estudio de estos equipos.
Recientemente, un nuevo microscopio electrónico de resolución sub-Angstrom, dotado de corrector de aberración en la lente condensadora y técnicas espectroscópicas (EELS, EDS), ha sido instalado en la ICTS Centro de Microscopia Electrónica del Campus de Excelencia Moncloa. En esta presentación se mostrarán algunas de sus aplicaciones.
Los Seminarios Internacionales de Fronteras de la Ciencia de Materiales son organizados por el Departamento de Ciencia de Materiales de la Universidad Politécnica de Madrid, y tienen periodicidad semanal. Su objetivo es servir de punto de encuentro, interacción y difusión de problemáticas actuales y destacadas dentro del área de la Ciencia e Ingeniería de Materiales; con una visión amplia que va desde los materiales biológicos a los materiales funcionales, pasando por aplicaciones puramente tecnológicas. En ellos se cuenta con la participación desinteresada de relevantes investigadores y tecnólogos de Universidades, Empresas y Centros de Investigación del ámbito nacional e internacional.
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