Как умирает EEPROM память?

preview_player
Показать описание


Flipper Zero:

Ссылки на микросхемы EEPROM:

Содержание этого ролика:
00:00:00 Вступление
00:00:35 Участники теста
00:02:09 Тестовый стенд
00:09:28 Как умирает EEPROM?
00:14:50 Что с ресурсом?
00:21:01 Итоги
00:22:44 Проводки
Рекомендации по теме
Комментарии
Автор

Сразу отвечаю на 2 самых популярных вопроса:
1. Как заказать на LCSC в Россию, Беларусь, Украину?
- Я не знаю
2. Как и где купить Flipper Zero?
- Я не знаю
Думаю, что в обоих случаях гугл поможет

rnadyrshin
Автор

Классно что есть такие люди кто готов проводить такие долгие серьёзные тесты 👍

DmitriyUV
Автор

Где-то встречал статью про ремонт магнитолки - систематически дохли ЕЕПРомки. При анализе причины выяснилось, что заводская прошивка записывает уровень громкости при каждом шаге энкодера. В итоге за год-два ресурс памяти вырабатывался полностью

destroy_swarm
Автор

Вот это реально полезные тесты, ребята давайте накидайте пальцев под видео, человек 2 месяца потратил на это. Заслуживает уважения, ещё раз спасибо.

germanytoday
Автор

На самом деле память тестируют шахматкой, записывая 0х55, и 0хАА. Это позволяет создать наихудшие условия, в том числе повышает ликедж между ячейками, потому что ноль возле единицы и наоборот

robertmonroe
Автор

Руслан, твой подход к тестам - это нечто! Очень благодарен за это видео!

Seriyvlk
Автор

О, помню ОЛЕД экранчики жгли, теперь ЕЕПРОМки.. Интересные и длительные тесты!

technomann
Автор

Интересный тест ) Но проблема еще в том, что у поюзаных ячеек сильно портится retention, заряд начинает утекать в покое. Т.е. записав весь объем 2млн раз, и положив чип в печку на +85° на месяц - ошибки будут на порядок раньше. И видимо часть микросхем даже не выжмет паспортный миллион.

BarsMonster
Автор

Было бы неплохо еще и посмотреть реальную зависимость ресурса EEPROM от температуры эксплуатации

vlwwwwww
Автор

Круто! полезное видео. Всегда, при написании программ, проверяю чтобы eeprom записывалась при конкретном событии, а не в каждом цикле программы.

СергейЧмеленко-пу
Автор

Самая большая проблема таких тестов, то что они НЕ тестируют ресурс. EEPROM содержит изолированный затвор в котором "запираются" электроны в момент записи. Проблема с износом в том, что при каждом стирании эта структура деградирует что приводит к повышенной утечке электронов. И в таком тесте всё будет чики поки - мы записали, тут же считали и всё хорошо, но хороши только потому, что у электронов не было времени "убежать" и только уже при очень сильном износе начинается то, что плавающий затвор не может совсем держать заряд. Если записать и оставить на день/неделю/месяц/год, то ошибки появятся и при меньшем количестве циклов записи, именно поэтому цифры в даташите и результат такого теста сильно отличается.
P.S. А теперь такой же тест с FRAM(MB85RC256V) пожалуйста! 😁

mnus
Автор

Спасибо! Реально очень полезное видео, также, как и с ресурсным тестом OLED экранов!

ОлегРешетник-ьъ
Автор

Очень познавательно. Неоднократно видел проблемные микросхемы памяти в очень дорогих устройствах, например профессиональные фотоаппараты, муз оборудование. Я всегда очень злился, почему завод не тестировал микросхемы ОЗУ и ПЗУ циклами записи-чтения (это же так просто сделать служебную функцию в прошивке и простейший мемтест+ стресс-тест процессора минут на 40-час? чтобы все шары Bga прогрелись и если где-то отходит контакт-он бы проявился) перед установкой в устройство и продажи его за несколько тысяч долларов!
Иногда была ошибка в ПО, например при записи нового трека прошивка не понимала что пустое место закончилось и записывала поверх служебных данных. Но это уже не относится к проблеме самих чипов, хотя н-р более грамотная архитектура могла бы разделить микросхему для основной прошивки и для данных и сделать их с планарными выводами для простой замены паяльным феном. и н-р сделать отдельный чип с калибровками, чтобы его можно было просто перенести на донорскую плату в случае гибели основной и не мучится.

очень часто встречалась битая оперативная память, распаянная в устройствах, причём подлость такой проблемы что проявляется она часто редкими глюками через определенное время или при вызове определенных функций (например загрузке новых данных или выборе каких-то режимов, где заполняется буфер), а при попытке прошить такое устройство из-за ошибок в контрольных суммах в ОЗУ повреждается и ПЗУ и настоящая боль не только найти распиновку JTAG но и слить-собрать рабочий дамп, особенно если всё на BGA пайке. Решениеv станет проверка контрольных сумм после полной распаковки в память ли как по-умному сделано в некоторых прошивальщиках биоса, там дуал-биос-то есть основной и резервный и небольшими блоками перезаписываются по очереди причём со считываем записанного и сверкой после каждого блока. Такой прошивке не страшно даже экстренная потеря питания. Это как делать, если по умном, в своих устройствах.

совет разработчикам-делайте стенд тестирования электронных плат своих устройств, минимум пару суток с повышенной температурой и влажностью, минимум 300-400 циклов проверки всех микросхем оперативной и постоянной памяти. разрабатывайте тесты мемтест для проверки, лучше встроенные с запуском комбинацией кнопок.

иные проблемы из опыта:
Дешевый некачественный текстолит тонкий, плохой припой BGA, неотмытый активный флюс, непропай под шарами в следствии несоблюдение температуры или некачественного флюса, завышенные напряжения питания-всё это приводит к глюкам и быстрой деградации... просчёты по охлаждению чувствительных к малейшему перегреву компонентов, BGA с краю платы где она изгибается... как Vik On неоднократно показывал в современных видеокартах. наверное книгу можно написать про косяки как не надо разрабатывать...

repair_technology
Автор

Мало кто слышал про FRAM, та, что "ферритовая". Она по ногам совместима с еепром 24й серии, только вечная. ОВЕН в свои старшие модели контроллеров её уже серийно применяет.

Menshinin
Автор

Вот почему на 20летних авто системы IMMO сбоить начинают(слёт синхры, ключей..).. А сейчас повально все автопроизводителе начали размещять ECU в подкапотном пространстве. Значит ресурс будет ещё меньше с учётом повышеной температуры. И наверно количество циклов монтаж-демонтаж тоже здоровья еепромкам не добавляют...

nikolaysobolev
Автор

Ура! Ещё есть люди, которые продолжают записывать хорошие и полезные видосы.

MakRus
Автор

Спасибо за проделанную работу. Очень интересно.

sashadeg
Автор

Практически ничего не понимаю в этом. Смотрел с перемотками. Но было интересно. В принципе, как я понял никакой воды. Возможно, и дальше буду смотреть ваши ролики. Оформление и подача материала очень и очень хороши. Благодарю.

Maximovich
Автор

Спасибо, вот это да! Классно, что вы сохранили интерес к такой деятельности, а не послали всё по бороде. Кста, была раньше память FRAM от Ramtron, вроде бесконечная и лучшая была (20 лет назад).

timatirus
Автор

Да, было интересно.
Для ускорения теста стоило подключать несколько микросхем одновременно.

stepst