Автоматизация проект. электронных устройств, ECAD/Computer-aided design of electronic devices, ECAD

Применение средств автоматизированного проектирования может существенно облегчить процесс исследования и разработки электронных устройств различного размера и уровня сложности: от отдельных транзисторов до сложнофункциональных систем, уменьшая количество дорогостоящих натурных испытаний и давая возможность провести оптимизацию устройств для повышения эффективности их работы, особенно в сложных условиях эксплуатации. Для получения корректных результатов моделирования также необходимо использовать корректные модели элементов системы. На секции обсуждаются вопросы разработки и модификации различных видов обеспечения САПР электронных устройств: математического, программного, информационного, методического.

Рук. Петросянц Константин Орестович, д-р техн. наук, профессор-исследователь Департамента электронной инженерии МИЭМ им. А.Н. Тихонова.

00:00:00 Старт/дисклеймер
00:00:05 Заставка
00:00:42 Старт работы секции
00:00:54 Доклад "Ускоренная модель оценки задержки для библиотеки стандартных ячеек на основе технологии FinFET 14 нм" - Коршунов Андрей Владимирович*, к.т.н., доцент, МИЭТ, Булах Дмитрий Александрович, к.т.н., доцент, МИЭТ, Волобуев Павел Сергеевич, ст. препод., МИЭТ
00:24:40 "Моделирование связанных осцилляторов в системах автоматизации схемотехнического проектирования" - Гурарий Марк Моисеевич, к. т. н., с. н. с., ИППМ РАН, Русаков Сергей Григорьевич, д.т.н., чл.-корр. РАН, профессор, главный научный сотрудник, ИППМ РАН
00:56:40 Доклад "Оценка эффективности применения различных промышленных экстракторов для определения параметров SPICE моделей субмикронных МОП‑транзисторов" - Петросянц Константин Орестович* д. т. н., проф.-иссл., МИЭМ НИУ ВШЭ, ИППМ РАН, Исмаил-Заде Мамед Рашидович, преподаватель, МИЭМ НИУ ВШЭ, Самбурский Лев Михайлович, к.т.н., доцент, МИЭМ НИУ ВШЭ, ИППМ РАН
01:07:10 Доклад "Сравнение основных характеристик NWFET и FinFET средствами TCAD-моделирования" - Силкин Денис Сергеевич, к. т. н., н. с., МИЭМ НИУ ВШЭ
01:20:10 Доклад "Моделирование взаимодействия потока космического излучения в объеме сенсора на базе монокристаллического алмаза в электронном блоке детектирования" - Ибрагимов Ренат Фаридович, инженер каф. 24 НИЯУ МИФИ,
Каперко Алексей Фёдорович, д. т. н., проф., МИЭМ НИУ ВШЭ, Недосекин Павел Геннадьевич, вед. конструктор, АО «АНЦ» (Астрономический научный центр)
01:32:46 Доклад "Применение методов машинного обучения для имитации поведения пользовательских программ в функциональной верификации микропроцессора" - Гревцев Никита Артемович, м.н.с., ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН, Чибисов Петр Александрович, к.т.н., с.н.с., ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН, Шумилин Сергей Сергеевич, м.н.с., МСЦ РАН, Орлов Денис Олегович, инженер, ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН
01:47:05 Доклад "Совместный алгоритм оптимизации размещения и ресурсов трассировки для структурированных заказных схем" - Андреев Александр Егорович, д.ф.-м.н., Интел АО, Батуро Алексей Леонидович, Интел АО, Павишич Иван, Интел АО, Русаков Александр Сергеевич*, к.ф-м.н. Интел АО, Яхонтов Александр Николаевич, Интел АО
02:05:20 Доклад "Моделирование сенсорных характеристик кремниевого плавникового нанотранзистора" - Масальский Николай Валерьевич, к. ф. м. н., в. н. с., ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН
02:29:00 Доклад "Методы снижения вычислительных затрат при TCAD-моделировании элементов фоточувствительных ПЗС и КМОП-фотодиодных микросхем" - Пугачёв Андрей Алексеевич*, к.т.н., ведущий научный сотрудник, НПП Пульсар
03:01:50 Доклад "Разработка ПО с возможностью компактного моделирования на языке программирования Python" - "Ващенко Иван Алексеевич, студент, НИЯУ МИФИ
03:15:05 Доклад "Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп для исследования и неразрушающего контроля полупроводниковых структур и интегральных схем" - Балуев Арсений Андреевич, техник, НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»
03:32:15 Доклад "Математическое моделирование, методологическое обеспечение и использование цифровых технологий при научных исследованиях прецизионных электромеханических систем для инновационных производственных технологий" - Останин Сергей Юрьевич, к. т. н., доцент, ФГБОУ ВО «НИУ «МЭИ»
03:59:14 Доклад "Методика автоматизации проектирования DC-DC преобразователей с учётом паразитных параметров печатной платы" - Щучкин Евгений Юрьевич, аспирант, НИУ МИЭТ

Международный научный форум FIT-M 2021

=======================================
Поддержи канал:
=======================================

Подписывайтесь на нас в соцсетях и блогах: